VLSI测试和可测试性设计.pdf
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VLSI测试和可测试性设计 EEHQU 22692477（O） 13600785246 edac@hqu.edu 2006-5-7内容
第一部分:测试理论基础 数字系统测试发展概况 VLSI测试过程和设备 测试经济学和产品质量 故障模型
第二部分:测试矢量生成---ATPG 逻辑和故障模拟 可测试性测量 组合电路ATPG 时序电路ATPG 存储器测试 IDDQ测试
第三部分:可测试性设计（DFT） 扫描测试 BIST 边界扫描测试 模拟测试总线 2006-5-7
第一部分测试理论基础 1.1数字系统测试发展概况 数字系统的测试是一个不缺少的重要环节。
系统测试的核心问题是确定施加什么样的激励，可以使故障激活 （既使故障能够反映出来），同时能够在可及端测量出来。
因此 还要确定在什么地方施加机理，在什么地方进行测量。
最初的系统测试主要采用功能测试，如1953年Eckert所采用的 BINCA计算机就是用两个相同的处理器同步进行工作，并随时进 行比较，看其是否有相同的结果来判断是否有故障。
生成测试程序 施加激励 测试仪 被测电路 观察响应 测试结果 2006-5-7
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爱，中央
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